Define el tipo de procesamiento de imágenes a aplicar a la imagen con el fin de determinar la presencia de defectos (Rápido, Defectos claros, Defectos oscuros o Defectos claros y oscuros; preajuste = Rápido).

• Rápido: Esta opción es ideal para detectar transiciones de intensidad similares a bordes en una superficie, como rayazos o arañazos. Aplica una operación de erosión-dilatación que resalta el borde de un defecto. Es la que se ejecuta más rápidamente. Sin embargo, solo comunica el perímetro del defecto, no su área.
• Defectos claros: Esta opción es ideal para detectar defectos claros, similares a burbujas, sobre un fondo oscuro, así como para detectar de defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza una operación de filtrado "top hat", que filtra todo menos las propiedades claras cuyo tamaño sea inferior al valor del parámetro "Tamaño de detección", con el fin de detectar posibles defectos.
• Defectos oscuros: Esta opción es ideal para detectar defectos oscuros, similares a burbujas, sobre un fondo claro, así como para detectar de defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza una operación de filtrado "bottom hat", que filtra todo menos las propiedades oscuras cuyo tamaño sea inferior al valor del parámetro "Tamaño de detección".
• Defectos claros y oscuros: Esta opción es ideal para detectar defectos similares a burbujas, tanto claros como oscuros, así como para detectar de defectos en función del tamaño de su área en píxeles. Utiliza operaciones "bottom hat" y "top hat" y el resultado máximo de ambas.

Nota: Si el tipo de operación de detección de defectos seleccionado es "Defectos claros", "Defectos oscuros" o "Defectos claros y oscuros", el parámetro "Tamaño de detección" debe ajustarse al tamaño del defecto más grande que se detecte.

Define la imagen de salida a mostrar (Imagen de entrada, Imagen muestreada, Candidatos a defectos o Imagen de máscara de defecto, preajuste = Imagen de máscara de defecto).

• Imagen de entrada: Se mostrará la imagen actualmente adquirida.
• Imagen muestreada: Se mostrará la imagen suavizada y muestreada. Si se ha utilizado una región angular o curvada como entrada, se mostrará la versión transformada y enderezada además de los efectos suavizado y muestreado.
• Candidatos a defectos: Se mostrarán los defectos potenciales. Los defectos potenciales aparecen resaltados contra el fondo.
• Imagen defectuosa: Se mostrarán los defectos. Los defectos se dibujan en blanco, mientras que las demás áreas aparecerán en negro. Esta opción de visualización incluirá defectos que queden fuera de los límites de los defectos definidos (Área mínima de defectos y Área máxima de defectos).

Nota: Esta imagen solo se presenta con fines de visualización y no se puede utilizar como entrada para otra función.

Define la magnitud del muestreo (1-99999; preajuste = 1) de la imagen de entrada, lo que reduce su resolución. Aunque el muestreo reduce el tiempo de ejecución de la herramienta, lo hace a costa de la precisión. A la hora de determinar el valor de muestreo adecuado, el valor 1 indica ningún muestreo, es decir, que la imagen de entrada se utilizará con resolución completa. Cuanto mayor sea el valor, menores serán la resolución y la precisión y mayores los tiempos de ejecución.

Define si la función determinará el factor de suavizado óptimo para aplicar al suavizado de la imagen (preajuste = desactivado). En general, el mejor rendimiento se obtiene si se permite a la función seleccionar el factor de suavizado óptimo.

Nota: El parámetro Suavizado automático está desactivado por defecto. Para habilitar el parámetro, se debe ajustar el parámetro Factor de muestreo a un valor mayor que 1. Si ajusta el parámetro Factor de muestreo con un valor mayor que 1 y no desea el suavizado automático, desactive el parámetro y defina el valor apropiado con el parámetro Factor de suavizado.

Define el factor (0 a 99999; preajuste = 0) de suavizado de la imagen. Para determinar el valor óptimo, comience con un valor similar al especificado en el parámetro "Factor de muestreo". Para no especificar ningún suavizado, asigne el valor 0.

Nota: Este parámetro se desactiva al activar el parámetro "Suavizado automático". Si activa el parámetro Suavizado automático, ajuste el parámetro Factor de muestreo a un valor mayor que 1 y desactive el parámetro Suavizado automático. Ahora se puede incrementar el parámetro Factor de suavizado.

Define el eje en el que detectar defectos potenciales (X, Y, X e Y; preajuste = X e Y).

Define el tamaño de la vecindad de detección (1-99999; preajuste = 1), en píxeles. Este parámetro se utiliza para establecer la vecindad de procesamiento, o núcleo, que se utilizará con el parámetro "Operación de detección de defectos". Para todas las operaciones de detección de defectos distintas de Rápida, el valor del tamaño debe ser al menos igual que el largo o el ancho de los defectos a detectar.

Define el umbral de intensidad (1 a 255, preajuste = 20) utilizado para detectar defectos. Para que un defecto sea detectado, su intensidad deberá diferenciarse del fondo en la magnitud de este valor.

Define el tamaño mínimo (1-99999, preajuste = 30), en píxeles, de los defectos a detectar.

Nota: Este valor se expresa siempre en píxeles, incluso aunque la tarea haya sido calibrada para utilizar unidades de medida reales en el paso Configurar imagen.

Define el tamaño máximo (1-99999, preajuste = 99999), en píxeles, de los defectos a detectar.

Nota: Este valor se expresa siempre en píxeles, incluso aunque la tarea haya sido calibrada para utilizar unidades de medida reales en el paso Configurar imagen.

Define el tiempo, en milisegundos (0 a 30.000; preajuste = 5000), durante el que la herramienta buscará defectos antes de detenerse y devolver un rechazo.

Muestra el recuento total de defectos detectados.